Estimation of the section thickness and optical disector height with a simple calibration method [2] (multiple letters)

McCrone W., Korkmaz A., Tumkaya L.

Journal of Microscopy, cilt.190, sa.3, ss.291-292, 1998 (SCI-Expanded, Scopus)

  • Yayın Türü: Makale / Kısa Makale
  • Cilt numarası: 190 Sayı: 3
  • Basım Tarihi: 1998
  • Doi Numarası: 10.1046/j.1365-2818.1998.0364b.x
  • Dergi Adı: Journal of Microscopy
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.291-292
  • Ondokuz Mayıs Üniversitesi Adresli: Hayır